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如何控製電鍍鎳磷鐵氟龍的鍍層厚度?

文章出處:公司動態 責任編輯:快3平台官网彩票中心 發表時間:2025-01-16
  ​1、電鍍鎳磷過程中的厚度控製
電鍍液成分調整
鎳離子濃度影響:電鍍鎳磷鐵氟龍在電鍍鎳磷合金鍍液中,硫酸鎳是鎳離子的主要來源。適當提高硫酸鎳的濃度可以增加鎳離子的供給,在其他條件不變的情況下,有助於增加鍍層厚度。例如,將硫酸鎳的濃度從 200g/L 提高到 250g/L,在相同的電鍍時間和電流密度下,鎳磷合金鍍層的沉積速度可能會加快,厚度相應增加。但鎳離子濃度過高可能會導致鍍層結晶粗糙,因此需要根據實際情況進行調整,一般濃度控製在 200 - 300g/L。
電鍍鎳磷鐵氟龍
還原劑和絡合劑作用:次磷酸鈉作為還原劑,其用量也會影響鍍層厚度。增加次磷酸鈉的量可以在一定程度上提高沉積速度,但過多可能會影響鍍液的穩定性。檸檬酸鈉作為絡合劑,能夠穩定鍍液中的金屬離子。合理調整它們的濃度可以控製鍍層的生長速度和質量。例如,檸檬酸鈉濃度在 30 - 50g/L 之間時,能較好地控製鎳離子的釋放速度,從而間接控製鍍層厚度。
電鍍參數控製
電流密度調節:電流密度是控製鍍層厚度的關鍵因素之一。在電鍍鎳磷過程中,電流密度一般控製在 3 - 6A/dm²。當電流密度增大時,鎳磷合金的沉積速度加快,鍍層厚度會迅速增加。例如,在電流密度為 3A/dm² 時,電鍍 3 小時可能獲得 15μm 左右的鍍層厚度;當電流密度提高到 6A/dm² 時,相同時間內鍍層厚度可能會達到 30μm 左右。但過高的電流密度可能會引起鍍層燒焦、結晶粗大等問題,所以需要根據實際情況選擇合適的電流密度。
電鍍時間把控:電鍍時間與鍍層厚度成正比。根據所需的鎳磷合金鍍層厚度來確定電鍍時間。例如,如果希望獲得 20μm 厚的鍍層,在已知電流密度、鍍液成分和溫度等條件下,可以通過試驗或者理論計算來確定所需的電鍍時間。一般來說,要獲得 20 - 30μm 厚的鎳磷合金鍍層,電鍍時間可能需要 3 - 5 小時。
溫度的影響:電鍍溫度通常維持在 80 - 90℃。溫度對鍍液的化學和電化學反應速度有顯著影響。在這個溫度範圍內,次磷酸鈉的還原反應能夠順利進行,有利於鎳磷合金的沉積。溫度升高,反應速度加快,鍍層厚度增長速度也會提高。但溫度過高可能會導致鍍液蒸發過快、成分變化以及鍍層質量下降等問題,所以要嚴格控製溫度。
2、電鍍鐵氟龍過程中的厚度控製
鐵氟龍乳液濃度和性質
乳液濃度調整:鐵氟龍乳液中聚四氟乙烯(PTFE)粉末的濃度直接影響鍍層厚度。乳液中 PTFE 的濃度一般為 10% - 30%。提高乳液濃度可以增加鐵氟龍在鍍層中的沉積量,從而增加厚度。例如,將乳液中 PTFE 濃度從 10% 提高到 20%,在相同的電鍍條件下,鐵氟龍鍍層厚度會相應增加。但濃度過高可能會導致乳液穩定性下降,出現顆粒團聚等問題,影響鍍層的均勻性。
乳液穩定性維護:保持鐵氟龍乳液的穩定性對於控製鍍層厚度均勻性至關重要。乳液中的分散劑(如全氟辛酸銨)能夠防止 PTFE 顆粒團聚。在電鍍過程中,要注意避免乳液受到劇烈的溫度變化、雜質汙染等因素的影響。例如,使用磁力攪拌時,要控製攪拌速度,避免破壞乳液的穩定性,確保 PTFE 顆粒能夠均勻地沉積在鎳磷合金層表麵,從而得到厚度均勻的鐵氟龍鍍層。
電鍍參數控製
電鍍電壓調節:電鍍鎳磷鐵氟龍時,電壓一般控製在 30 - 60V 之間。電壓的高低會影響鐵氟龍顆粒向工件表麵的遷移速度和沉積量。提高電壓可以加快鐵氟龍顆粒的沉積,增加鍍層厚度。例如,當電壓從 30V 提高到 60V 時,在相同的電鍍時間內,鐵氟龍鍍層厚度可能會明顯增加。但電壓過高可能會導致局部放電、鍍層燒焦等問題,需要根據實際情況調整。
電鍍時間把控:電鍍時間同樣是控製鐵氟龍鍍層厚度的重要因素。電鍍時間為 1 - 3 小時,根據所需的鐵氟龍鍍層厚度和實際電鍍效果來確定。例如,要獲得較厚的鐵氟龍保護層,可能需要延長電鍍時間到 3 小時左右,同時要注意觀察鍍層的質量,避免出現缺陷。
3、過程監控與調整
實時厚度監測:
電鍍鎳磷鐵氟龍使用塗層測厚儀對電鍍過程中的鍍層厚度進行實時監測。現代的測厚儀可以在不破壞電鍍過程的情況下,精確測量鎳磷合金層和鐵氟龍層的厚度。例如,在電鍍鎳磷過程中,每隔一段時間(如 30 分鍾)測量一次鍍層厚度,根據測量結果及時調整電鍍參數。如果發現鍍層厚度增長速度過快或過慢,可以相應地調整電流密度、鍍液成分等。
鍍層質量觀察與反饋調整:
在電鍍過程中,要隨時觀察鍍層的外觀質量。如果發現鍍層表麵出現針孔、氣泡、結晶粗糙等問題,可能是電鍍參數不合理或者鍍液成分出現變化導致的。這些問題不僅會影響鍍層的質量,還可能會影響鍍層厚度的均勻性。例如,當鍍層出現針孔時,可能是鍍液中有雜質或者電鍍過程中產生了氫氣,需要對鍍液進行過濾除雜,或者調整電鍍參數(如降低電流密度)來改善鍍層質量,進而保證鍍層厚度的有效控製。

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